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Partikelgrösse

		Die Partikelgrösse beeinflusst sowohl chemische als auch physikalische Eigenschaften von Materialien. Wichtige Parameter wie z.B. die Stabilität, chemische Reaktivität, Festigkeit und Ladungsverhalten sind eng mit ihr verknüpft. Die Partikelgröße ist deshalb ein entscheidender Faktor in der Beurteilung von Produkten und Prozessen. Zur Bestimmung der Partikelgröße von kolloidalen Systemen, Emulsionen, Suspensionen, Dispersionen, Pulvern oder Granulaten. Beckman Coulter bietet eine Vielzahl von Verfahren zur Charakterisierung der Partikelgrösse an, wie z.B. die dynamische Lichtstreuung (Photonenkorrelationsspektroskopie), die statische Lichtstreuung (Laserbeugung) oder die Widerstandsmessung (Coulter-Messprinzip) zur Einzelpartikelbestimmung.

statische Lichtstreuung (Laserbeugung)

Die Systeme der LS13320-Serie messen die Partikelgrösse mittels der statischen Lichtstreuung. In Kombination mit der patentierten PIDS (Polarisation Intensity Differential Scattering) –Technologie ist damit ein erweiterter Messbereich von 17nm bis hin zu 2mm real analysierbar. Alle Systeme der LS13320-Serie erfüllen die Anforderungen des internationalen ISO-Standard 13320-1 für die Partikelgrössenanalyse mit Laserbeugung.

LS13320 PIDS (0,017 - 2.000 µm)NEU Mit dem LS13320 verfügt der Anwender über ein System mit einer sehr hohen Messgenauigkeit und Reproduzierbarkeit. Ermöglicht wird dies durch die Verwendung von 126 Detektoren in Verbindung mit eine... » mehr		LS13320 Mikro (0,4 - 2.000 µm) Mit dem LS13320 verfügt der Anwender über ein System mit einer sehr hohen Messgenauigkeit und Reproduzierbarkeit. Ermöglicht wird dies durch die Verwendung von 126 Detektoren in Verbindung mit eine... » mehr

dynamische Lichtstreuung (DLS)

Das Delsa™Nano S verwendet zur Bestimmung der Größe von Nanopartikeln das Prinzip der dynamischen Streulichtmessung bzw. der Photonenkorrelationsspektroskopie (PCS). Durch die Detektion des rückgestreuten Lichtes unter 165° erhält der Anwender die Option, auch Stoffsysteme zu vermessen, die entweder im unteren Nanometerbereich liegen oder sehr geringe Streulichtintensitäten aufweisen. So können z.B. auch Proteine, Mizellen oder Liposomen mit einer sehr hohen Auflösung analysiert werden.

Delsa™Nano S (0,6 - 7.000 nm) Mit dem Delsa™Nano S lassen sich Partikel ab 0,6 nm vermessen. Messungen können sowohl in verdünnten wie auch in konzentrierten Suspensionen durchgeführt werden. Die zur Größenbestimmung minimal e... » mehr

Partikelgrösse (DLS) und Zetapotential (ELS)

Das Delsa™Nano C und Delsa™Nano HC sind beide so ausgelegt, dass sowohl die Partikelgrösse als auch das Zetapotential im gleichen System gemessen werden kann. Dazu verwenden diese Systeme 2 separate Laserdioden, die eine optimierte Messung des dynamischen Streulichtes zur Bestimmung der Größe von Nanopartikeln sowie die die Messung der elektrophoretische Lichtstreuung zur Bestimmung des Zetapotentials. Beide Parameter können mit einer Messzelle oder mit getrennten Messzellen bestimmt werden.

Delsa™Nano C (0,6 - 7.000 nm) Das Delsa™Nano C kombiniert in idealer Weise das Prinzip der dynamischen Streulichtmessung (DLS) zur Partikelgrößenbestimmung mit der elektrophoretischen Lichtstreuung (ELS) zur Analyse des Zetapo... » mehr		Delsa™Nano HC (0,6 - 7.000 nm)NEU Das Delsa™Nano HC kombiniert in idealer Weise das Prinzip der dynamischen Streulichtmessung (DLS) zur Partikelgrößenbestimmung mit der elektrophoretischen Lichtstreuung (ELS) zur Analyse des Zetap... » mehr

Partikelzählung (Coulter-Counter)

Die Bestimmung von Partikelzahlen oder exakten Partikelkonzentrationen ist für viele Anwendungen, wie z.B. in der Schleifmittelherstellung oder der Tonerherstellung, eine Grundvoraussetzung. So findet das durch Wallace Coulter im Jahr 1953 entwickelte Verfahren zur Partikelzählung über die Widerstandsänderung heute immer noch seine Existenzberechtigung. Durch die Verwendung neuer Detektionstechniken (DPP-Technik) in Verbindung mit modernen Gerätedesign bieten die „Coulter-Counter“ der heutigen Generation (Coulter Multisizer™ 4) ungeahnte zusätzliche Möglichkeiten in der Auswertung neben einer sehr einfachen Bedienung.

Multisizer™ 4 (0,4 – 1.600 µm) Mit der im Multisizer™ 4 eingesetzten „Digital Pulse Processor (DPP)“ wird das klassische Impedanzmessverfahren (ISO 13319), erfunden 1953 durch Wallace Coulter, erstmals komplett digital umgesetzt. » mehr		Multisizer™ 3 (0,4 – 1.200 µm) Mit der im Multisizer™ 3 eingesetzten „Digital Pulse Processor (DPP)“ wird das klassische Impedanzmessverfahren (ISO 13319), erfunden 1953 durch Wallace Coulter, erstmals digital umgesetzt. Damit ... » mehr